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國產EDX3600Kxrf光譜儀

  • 型   號:EDX3600K
  • 價   格:

國產EDX3600Kxrf光譜儀屬于先進的分析檢測儀器,隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展,傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式,轉化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結構,并向智能化、小型化、在線式及儀器聯用方向發展。

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國產EDX3600Kxrf光譜儀儀器配置:

鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強系統
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
較先進的數字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型

國產EDX3600Kxrf光譜儀技術參數:

型號:EDX3600K xrf光譜儀
X射線源:50KV、1mA
樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍:原子序數為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量
檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據客戶需要增加元素
含量范圍:ppm~99.99%
檢測時間:10秒以上
檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器較低至125eV
激發源:銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
攝像頭:高清攝像頭
測井環境:超真空系統,10秒可抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片:四組準直器(7、5、3、1mm),6種濾光片組合自動切換
自旋裝置:可調速的自旋裝置
檢出限:對樣品中的大多數元素來說,較低檢出限達5~500ppm
真空系統:超真空系統,10秒可到10Pa
數據傳輸:數字多道技術,快速分析,高計數率
測試臺:360°電動旋轉式
保護系統:樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成
樣品放置:獨特的樣品杯設計,自帶壓環,可防止樣品晃動
數字多道技術:計數率>50kcps,有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度:15℃~30℃

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